Hallo,
ich bin hier gestern in eine Diskussion geraten, bei der es um die Debye-Scherrer-Auswertung/Rietfeld-Auswertung ging. Knackpunkt war der den Einfluss der "Kristallqualität" auf die Reflexbreite.
Hintergrund: Es wird ein Me-Hydroxid getempert. Durch Wasserabspaltung entsteht das Me-Oxid im Bereich um 600°C. Um nun den Einfluss der Temperung zu untersuchen (Zeit-Temperatur-Umwandlungsschaubild und andere Modellbildungen) kam die XRD ins Spiel und die Diskussion ging los.
- Klar ist, das die XRD-Auswertung eine charakteristische Länge liefert
- Auch waren wir uns einig, das bei Zwilllingen mit Winkel nur die Teillänge des Zwillings gemessen wird
- nun geht es los: Relativ häufig sind hier Zwillinge, die einen etwa 3nm dicken Bereich haben, der quasi nur zwei Stapelfehler ist. Der Kristall hat nach aussen nur eine leichte Stufe, einen Versatz - Was würde die XRD sehen?
Kann mir da einer auf die Sprünge helfen?
LG