Hallo,
Quizrfrage in die Runde:
Ich habe hier zwei Pulver, deren Partikelgröße mit knapp 0.5µm ist innerhalb weniger Prozent vergleichbar, von denen ich eine grobe XRD habe machen lassen.
Pulver A ist die Reinsubstanz Pulver B ist mit einem leichten Element mit weniger als 2wt% dotiert, aber über der Löslichkeitsgrenze. Durch die Herstellung ist eine deutliche Anreichung der Dotierung an der Oberfläche erzielt worden,. Aber es sind keine Fremdphasen, Ausscheidungen, core-Shell-Strukturen etc im TEM oder der XRD erkennbar.
ABER:
Die Peakhöhen des dotierten Pulvers sind systematisch, also kein Fehler bei der Präp, um etwa 10% niedriger!
Kann es sein, dass die Anreicherung an der Oberfläche die Beugung stört? Also die leichten Atome die konstruktive Interferenz stören?
Oder gibt es andere Effekte, an die ich gerade nicht denke?
MfG
Frank