Hi,
ich habe mich bei solchen EDX-Problemen (in situ Messung auf der Stufe) folgendermaßen geholfen.
Stüfchen in leitfähiger "Knete" auf Probenträger fixieren, darauf achten, dass der Weg vom xl zum Detektor frei bleibt, eine winzige Markierung (Pfeil) in Richtung des zu untersuchenden xls anbringen (wegen der besseren Auffindbarkeit im Raster), zusätzlich mit C- oder Cu-Leitband das Stüfchen rundum mit dem Alu-Probenteller verbinden (lässt sich später leicht entfernen). Auf diese Art habe ich bisher auch ohne Sputterung immer Erfolg gehabt, konnte sogar ohne Probleme REM-Fotos machen.
Am einfachsten wäre natürlich ein winziger, glatter Splitter des zu untersuchenden xls in Leit-C Pads gedrückt. Es geht meist aber auch, indem man eine winzige Menge Pulver vom zu untersuchenden Kristall mit einer feinen Nadel vorsichtig abschabt und dann auf das Pad aufbringt.
Bei den zigtausend von mir durchgeführten EDS-Analysen an Mineralien habe ich nur in wenigen Einzelfällen, wenn ein besonders stark vergrößertes REM-Foto erwünscht war, die Probe mit Ag, Pt oder C-beschichtet.
Die benötigten Materialien sind als Verbrauchsmaterial im Zubehörhandel erhältlich.
MfG u. GA
Günter Blaß